平面平晶檢測干涉儀

產地/品牌：慧利

型      號： HOOLL9600A

參考報價：面議

最后更新：2020-12-04

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冠乾科技（上海）有限公司

Obducat納米壓印EITRE® 3

產地/品牌：Obducat

型      號： EITRE® 3

參考報價：面議

最后更新：2020-12-04

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冠乾科技（上海）有限公司

掃描電鏡/FIB原位納米壓痕儀Hysitron PI 88

產地/品牌：布魯克

型      號： Hysitron PI 88

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冠乾科技（上海）有限公司

布魯克Hysitron PI 95透射電鏡測試系統

產地/品牌：布魯克

型      號： Hysitron PI 95

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最后更新：2020-12-04

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冠乾科技（上海）有限公司

NILT納米壓印儀

產地/品牌：NILT

型      號： NILT

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冠乾科技（上海）有限公司

布魯克3D光學輪廓儀

產地/品牌：布魯克

型      號： Contour GT

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冠乾科技（上海）有限公司

DektakXT臺階儀,表面輪廓儀

產地/品牌：布魯克

型      號： DektakXT

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冠乾科技（上海）有限公司

球面鏡輪廓儀

產地/品牌：慧利

型      號： HOOL L8400A

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冠乾科技（上海）有限公司

納米材料狹縫涂布儀

產地/品牌：nTact

型      號： nRad

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冠乾科技（上海）有限公司

Bruker摩擦磨損試驗機UMT

產地/品牌：布魯克

型      號： Bruker

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布魯克TI Premier 高精度納米力學測試系統

產地/品牌：布魯克

型      號： TI Premier

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多普勒激光測振儀Memsmap 510

產地/品牌：挪威Optonor

型      號： Memsmap 510

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