沃特世出席質譜分析學術報告會,展示最新質譜技術
瀏覽次數:3527 發布日期:2017-12-13
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沃特世出席第三屆全國質譜分析學術報告會,展示最新質譜技術
中國上海 – 2017年12月13日, 由中國化學會質譜分析專業委員會主辦、廈門大學承辦、中國質譜學會和中國分析測試協會協辦的第三屆全國質譜分析學術報告會于12月8日至11日在廈門成功召開。本次會議以“高速發展中的中國質譜分析”為主題,吸引了來自全國的質譜技術與應用專家學者、質譜廠商與用戶共1500余人參加。
該會議旨在促進中國質譜分析技術的快速發展,展示中國在該領域取得的成績及增進同行間的學術交流。
全國質譜分析學術報告會已成功舉辦兩屆,本次的會議內容包括:新儀器新技術、離子源、蛋白與代謝組學、質譜在精準醫學中的應用、環境與食品安全分析、無機質譜、質譜成像、有機/生物質譜新方法、青年論壇。
作為深耕質譜技術幾十載的行業領導者,沃特世公司全方位參與了此次會議,并展示了一系列質譜分析技術領域的最新成果,包括三重四極桿質譜、高分辨質譜以及離子淌度技術等,引起了眾多參會者的高度關注和濃厚興趣。其中,作為Xevo家族最新成員的Xevo TQ-XS,以其極高的靈敏度和整體創新設計已先后榮獲ACCSI“2016科學儀器行業優秀新產品”和分析測試百科AnTop獎殊榮。

Waters Xevo TQ-XS三重四極桿質譜儀
值得一提的是,今年恰逢沃特世推出全球第一臺行波離子淌度質譜(IMS)10周年、全球第一臺商品化QTof 20周年。從第一臺淌度質譜SYNAPT HDMS,到新型淌度質譜VION IMS QTof,淌度質譜已不再神秘,可以應用到每一個實驗室的常規分析中,幫助研究人員更有把握地進行分析物的探索、鑒定和定量。會議現場,沃特世公司特意設置了離子淌度知識答題活動,吸引了眾多與會者踴躍參與。

沃特世展臺現場人頭攢動,離子淌度答題活動氣氛熱烈
在分會報告上,沃特世公司應用科學家殷薛飛博士作了題為“原位電離質譜技術及其在生物分析中的應用”的報告,詳細介紹了沃特世獨有的REIMS技術及無損的DESI技術在生物分析中的應用,包括微生物鑒定、質譜成像、藥物分布等。原位電離質譜技術是近年來發展迅速的質譜離子化技術,因其無需復雜樣品前處理即可實時進行樣品分析的優點被廣泛應用于快速檢測。REIMS技術及無損的DESI技術是兩類非常有用的原位電離質譜技術,已被廣泛應用于生物科學、食品、制藥等行業。

沃特世公司應用科學家殷薛飛博士報告現場
此外,為了鼓勵和表彰本次會議的青年論壇優秀報告和墻報,會議特設“優秀青年報告獎”和“優秀墻報獎”。沃特世公司質譜產品市場發展總監舒放先生為獲得“優秀墻報獎”的諸位作者頒獎,并表示:“沃特世非常榮幸能夠贊助此次優秀墻報評選活動。作為質譜分析領域的領導者,沃特世將在未來繼續大力支持中國質譜領域的創新發展和各項工作,加大與業內專家學者的學術交流,共同促進中國質譜事業的發展。”

“優秀墻報獎”頒獎現場(左二為沃特世公司質譜產品市場發展總監舒放先生)
沃特世公司(紐約證券交易所代碼:WAT)專注于為實驗室相關機構開發和生產先進的分析和材料科學技術。50多年來,公司開發出一系列分離科學、實驗室信息管理、質譜分析和熱分析技術。