7月30-8月2日，天府之國四川成都，召開了第十四屆國際谷物穗發芽會議，本次會議由國際谷物穗發芽大會主辦，四川農業大學承辦。
 

大會伊始，由四川農業大學小麥研究所所長王際睿致辭，隨后會議圍繞種子發育對萌發影響、穗發芽抗性機制及其對品質影響、抗性育種等內容展開。英國John Innes中心Steve Penfield博士，中國科學院遺傳與發育生物學研究所儲成才博士等與會專家做了精彩的報告。
 

慧諾瑞德（北京）科技有限公司（PhenoTrait）應邀參會并布設展臺展示了最新的光合作用測量和植物表型測量技術，包括

• 高通量葉綠素熒光成像測量系統（成像面積從20x20cm 到 200x200cm）

• 溫室冠層葉綠素熒光“遙測”系統（側面放置CropObserver遙測植物光合熒光）

• 田間高通量冠層葉綠素熒光“遙測”系統（田間高通量光合表型測量不是夢）

• 多功能植物測量儀（【視頻】頂級大牛講解葉綠素熒光原理和參數）

• 多通道冠層光合氣體交換測量系統

• 溫室和田間高通量表型測量技術（多尺度高通量植物表型平臺解決方案）

• 新型智慧農業傳感器——光譜氣象儀